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Thermo Fisher Scientific, Inc.

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  1. ESD試験(HBM、MM)装置 MK. シリーズ NEW
  2. ESD試験(CDM)装置 Orion NEW
  3. 保護回路TLP試験装置 CelestronNEW

ライン


1. ESD試験(HBM、MM)装置 MK. シリーズ
MK HBM,MM試験装置MK.シリーズ
MKシリーズはデバイスの多ピン化に対応したコンパクトなESD試験装置です。3つのバリエーションがあり、ユーザのご要求に合わせたシステムの提案が可能です。
どのシステムも今日の最新の規格に対応したESD試験、ラッチアップ試験(オプション)を実施できます。最大256ピンに対応したESD試験装置です。
MK.1
MK 共通仕様
■ESD(HBM、MM)
 JEITA、JEDEC、ESDA、AEC
■ラッチアップ試験(オプション)
 JEITA、JEDEC、AEC
 ※MK.2はStaticラッチアップを標準装備
■複数のHBM、MMパルス源
 全てのテスターピンにおいて精密なESD波形
■パラメトリックステスト機能
 Curve tracing
 Spot VI measurements
 PSU measurements
MK.2 ■データセット機能
 柔軟で使い易いソフトウェア
MK ■電源シーケンス
 目的のテストに合った柔軟なシーケンス
■イベントトリガー出力
 ユーザにより設定されたトリガー管理機能
■コンパクトな構造
 独自の設計による省スペース化を実現
MK.4

個別仕様(オプション含む)

機種 ピン数範囲 電圧 最大電源数 ベクター  
ラッチアップ
MK.1 64〜256 HBM:8kV
MM:1kV
3bias、
1stress
None
MK.2 128〜768 HBM:12kV
MM:1kV
5bias、
1stress
1Level、
10MHz、
64kRAM
MK.4 1152〜2304 HBM:8kV
MM:1kV
7bias、
1stress
6Level、
10MHz、
256kRAM


本体サイズ:W:D:H
    MK.1:  579×774×914 o
    MK.2:  579×774×914 o
    MK.4:  600×990×1270 o






2. ESD試験(CDM)装置 Orion
Orion CDM試験装置 Orion
Orionはデバイスの帯電による静電破壊現象をシミュレートできるテストシステムです。


仕様
■ESD(CDM)
 JEITA、JEDEC、ESDA、AEC
■多ピンデバイスへの対応
 最大2200ピン(1cm2辺り400ピン)
■デュアルカメラディスプレイ
 セットアップのアライメントの簡易化
■大きなテストエリア
 10cm×10cmのテストエリア
■イベント検知機能
 放電の確認やイベントの記録機能
■波形モニタプローブ
 オシロスコープで校正するための波形モニタ
■柔軟なソフトウェア
Orion  テスト電圧や極性、波形間のディレイ設定等


本体サイズ:W:D:H
      590×660×1220 o 






3. 保護回路TLP試験装置 Celestron
Celestron TLP試験装置 Celestron
CelestronはウェハおよびパッケージレベルでデバイスのESD保護回路の特性評価を行えるTLP試験装置です。


仕様
■TLP
 ウェハレベル、パッケージレベル
 TDR、TDT(オプション)、TDTR(オプション)
■カーブトレーサー内蔵
Celestron ■リアルタイムディスプレイ
 TLP電圧とパルス電流
■プローバとのインターフェイス
 セミオートプローバとの接続
■省スペース


本体サイズ:W:D:H
      560×585×623 o






ライン